功能简介
LT-80C通用数字IC测试仪是采用单片机技术的一种便携式仪器。它能够准确、迅速地测量TTL74/54、CMOS40/45系列数字集成电路的好坏，自动识别不知名的集成块并显示其型号。该测试仪体积小、重量轻，携带使用方便，外壳采用工程塑料，大小与一般数字万用表相当（35mm×85mm×165mm），3位大液晶数字显示清晰（字高20mm，宽9mm），并有蜂鸣器作为操作的提示声音。由一个9V叠层电池供电，并设一个外接电源插孔，其静态电流只有十几毫安。面板上有电源开关、1个20脚测试座和4个操作按钮，外观简捷美观。非常适合科研、生产、维修及广大电子技术爱好者使用。
工作原理
电原理图见图1、图2，包括单片机80C31、锁存器74HC573（功能等同于74HC373，但引脚排列不同）、缓冲器74HC245、只读存储器27C256等主要IC。测试时单片机系统利用存储在27C256内的逻辑数据与芯片的实际输入输出逻辑关系逐一进行比较，如果相同则确定是该型号芯片。然后把型号送到显示电路，并发出一短音提示。如没有与被测试芯片相同逻辑关系的数据，则认为是坏芯片或是其它种类的芯片，这时显示999，并有3声短音提示。TTL74/54、CMOS40/45系列芯片的引脚数基本上在14～20这个范围。测试时无论被测芯片引脚数为多少，芯片的①脚恒定在测试座的①脚，测试座的恒为正电源脚V\(_{CC}\)，为被测芯片提供+5V电源。根据被测芯片引脚数的多少，电源地由测试座的⑦～⑩脚提供。测试中测试座除了⑩脚和其余各脚要求既能作为输入也能作为输出，80C31的P1口、P3口正好能满足要求，但不够用，所以扩展了一个与80C31类似的8位准双向I/O口。由74HC573（8D锁存器）、74HC05（6非门，开漏极输出）、74HC245（8三态双向缓冲器）、三极管VT1～VT3等元件组成。
输出由74HC573经74HC139（B）地址译码，用数据存储器的写操作指令将数据锁存输出，再经74HC05和VT1～VT3反相送到测试座。因74HC573的锁存使能为高电平有效，所以74HC139（B）Y0的选通信号加一个非门反相。测试座的⑦～⑩脚都有可能是被测芯片的接地脚，所以采用3个三极管来增大⑦～⑨脚的驱动电流。
输入由74HC245通过74HC139（A）地址译码，用数据存储器的读操作指令读取被测IC脚的数据。
显示电路见图3，电路采用3个BCD-7段数码液晶驱动电路CD4543来完成。其功能为，ABCD脚输入4位BCD码，ST脚高电平将输入码锁存，由abcdefg输出0～9的段码。PH脚为输出反转控制，PH输入高电平，段输出低电平码，PH输入低电平，则反之。此脚要输入一个占空比为1∶1、频率为30～500Hz的方波。这是因为液晶显示器是交流驱动器件，若用直流驱动将缩短液晶显示器的使用寿命。此方波由80C31的P3.5提供。BL脚为显示开关控制，接地即显示常开。
测量范围：TTL74/54系列（包括74-、74S-、74LS-、74ALS-、74AC-、74ACT-、74HC-、74HCT-、74F-、74FHC-，以及与上述型号相对应的54系列产品）。CMOS40-系列，CMOS45-系列。
有关该测试仪的详细功能和使用方法，请与龙亭电子遥控厂联系（见本期第62页广告）。
（孙仲和）