(周永青)目前只有少数几种数字万用表例如DT970型数字万用表增设了逻辑电平测试档（LOGIC）。而很多数字万用表（例如：DT830、DT890、DT930F、DT1000等）都未设置逻辑电平测试功能。笔者在实践中发现可用这类万用表的DC2V档测量TTL、CMOS数字集成电路的逻辑电平。
其原理是：TTL电路的逻辑0即低电平，通常为0.2V（不高于0.4V），逻辑1即高电平通常为3.3V（不低于2.4V）；CMOS电路的低电平近似等于V\(_{SS}\)（电源电压负端），高电平则近似等于VDD（电源电压正端），一般不会超过18V。这时虽然数字万用表DC2V档工作在超量程状态，但由于数字万用表过载能力强（以DT830型数字万用表为例，其DC2V档最大允许输入电压为1000V），所以用DC2V档测量逻辑电平不会损坏万用表。
我们用数字万用表的DC2V档测量逻辑电平，即设定了逻辑阀值电压为2V。在逻辑测试中，若数字万用表在最高位显示超量程符“l”即为高电平（说明被测电压大于等于2V），其余情况则为低电平（被测电压小于2V）。当然，若数字万用表红表笔接测量端后，LCD显示的最末位或最末两位只是跳数（与表笔悬空时显示一样），则说明被测IC输出端正处于高阻值状态。一般情况下我们在测量中不用考虑电平的具体数值，这种测量方法利于观测，眼睛不易疲劳，其基本功能等效于普通的逻辑测试笔。测量连接情况如下图所示。
