用JT-1图示仪测试光耦合器

🏠 首页 《无线电》杂志 1990年 🔗 第5期 🔗 第37页 张海春 🔗

本文向读者介绍一种用JT-1型晶体管特性图示仪测试光耦合器的方法。

测试前先将光耦合器按图1连接。图中D、C、E三根线分别对应半导体三极管的B、C、E极接在仪器插座上。仪器上各旋钮和开关的位置与测试NPN型半导体三极管相同。例如,峰值电压范围:0~20V;峰值电压:10V;极性(集电极扫描):正(+);功耗电阻:200;Y轴作用:I\(_{c}\)1毫安/度;X轴作用:Vc1伏/度;级/秒:上100;极性(阶梯):正(+);阶梯作用:重复;阶梯选择:I\(_{B}\)1毫安/度。这样就能在JT-1显示屏上得到器件的特性曲线。 (张海春)

图1
图1 🔍原图 (419×311)