在实际工作中，为确保可控硅工作可靠，除判断其质量好坏外，还需实测其触发电流大小。在缺乏专用设备的情况下，用JT—1型晶体管特性图示仪测试这一技术参数，也可收到很好的效果。下面就其测试方法作一简单介绍，以供参考。
1．接线方法
我们可以把可控硅看作一只NPN型晶体三极管，将其三个极分别接到JT—1型图示仪相应的接线柱E、B、C上，见图1。
2．JT—1型图示仪的参数选择
峰值电压范围 0～20V
峰值电压 15V（可调）
极性（集电极扫描） 正（＋）
功耗电阻 20Ω（可选）
Y轴作用 Ic～100mA/度
X轴作用 基极电流
级/秒 上100
极性（阶梯） 正（＋）
阶梯作用 重复
阶梯选择 Ib～1mA/度
2mA/度
5mA/度
（可选）
级/族 10
3．触发电流值的计算
按上述要求选好参数并接通电源，便可在图示仪的屏幕上看到如图2所示的曲线。曲线说明可控硅在X数轴上第N点之前是没有导通的。只是从N点开始可控硅才导通。N点所代表的基极电流即为所求的触发电流。可计算如下
触发电流=N×阶梯选择（MmA/度）
=N×M（mA）
其中M值由阶梯选择开关决定，一般选1mA/度
2mA/度
5mA/度等。
采用这种测试法不但方法简单，而且速度快，因此有很好的实用价值。(杨文一)