TTL系列集成电路是目前应用较广的一种数字逻辑电路，在各种计算机、工业控制设备等中，常常可以看到各种大小的TTL集成电路，当一台整机工作不正常时，如何用最快速简单的办法来查找判断是那一块集成电路出了故障呢？本文向读者介绍一种用万用表检查测试的方法。
具体的测试方法与步骤是：（1）拔下待查的集成块，从电路中或技术手册中找出该集成电路块接电源地端的那只管脚。（2）用一只指针式万用表，拨到R×1KΩ电阻档，黑表笔接在待查集成块的电源地端，红表笔依次量测其它各端对电源地端的直流电阻（见图1）。正常情况下，各端子对地电阻应为5KΩ左右（对应于500型万用表，若用其它型电表，此值略有上下），其中正电源端子对地电阻允许低至3KΩ左右。若量到某一端子的对地电阻低于1KΩ，甚至几乎为零时，则该集成块肯定是已损坏；若量到大于12KΩ以上时，也表明该集成块不能使用了。（3）为了进一步证实，还可以将两支表笔对调，即将红表笔接地端，黑表笔轮流接除正电源端外的其它各端，可以看到，对于正常的集成块，各端对地的反向电阻均大于40KΩ，而损坏的端子对地电阻则很小，其阻值几乎与（2）中测得的相同。（4）正常的集成块，其电源正端对地端的正、反向电阻值均较其它端为小，最大不超过10KΩ，若此值接近无穷大，则说明此集成块的电源端有断路。表1列出了各端对地电阻阻值的正常值和不正常值对照，供读者在测量时参考。表中数据系采用500型万用表测得，若用其它型号的万用表，差异不会太大，但不能使用数字式万用表测量。
这种测试方法的理论依据可由图2来说明。图2示出了一个典型的TTL与非门电路，由图可见，当黑表笔（相当于电池正极）接集成块地端、红表笔接触入端时，电流通路如图中虚线所示：地→R\(_{5}\)→T4bc结→R\(_{4}\)→R1→T\(_{1}\)be结→输入端Vi，这相当于两个正向PN结及三个低值电阻的阻值总和。若红表笔接输出端V\(_{O}\)时，电流通路如图2中实线所示：地→R3→T\(_{5}\)bc结→输出端VO，这相当于一个正向PN结和一个低值电阻之和。这两条通路的电阻，都是当黑表笔接地端时呈现低阻值，反之，呈现高阻值。
用同样的分析方法不难看出，对+5V电源端与地端，无论表笔正接或反接，总有一个正向PN结导通，因而总是呈现低阻值。
当某一块TTL集成电路损坏的，其内部的PN结必有所损坏，因此，与晶体三极管一样，可以用测试各端直流电阻的方法来判断TTL集成电路的好坏。
以上虽然只举了一个与非门电路的例子来分析其测试原理，对于其它形式的电路，例如触发器、反相器、译码器等等，也可以用这种方法来测试判断。(上海电器科学研究所 林在荣)