用这台测试仪可以直接测试高频或超高频三极管的特征频率f\(_{T}\)。对于NPN管，fT的测试范围为100MHz；～1000MHz；对于PNP管，f\(_{T}\)的测试范围为10MHz～100MHz。并且通过表针的摆动情况，可以大致看出待测管的AGC特性。本仪器的体积与上一期介绍的晶体管直流参数测试仪的长、宽一样，而稍厚些，整个仪器体积为100×50×32（mm）。
电路原理
f\(_{T}\)是高频三极管的特征频率，它代表的是三极管的放大倍数下降到β=1时所对应的工作频率。从图1所示的β～f特性曲线上可以看出，在频率为f1～f\(_{h}\)这段范围内，晶体管的放大倍数β基本上是常数，与频率无关；当工作频率f≥fh时，β将随频率的增高而降低，即直线下降，因此，我们可以用公式β·f=f\(_{T}\)来表示它们的关系。在实际测试中，通常认为当β随频率下降到10以下时，就可按上述公式来计算fT。当我们给定某一工作频率f\(_{测}\)时，就可以测出该管β，再求出β与f测的乘积就是这个管子的f\(_{T}\)了。对于PNP管，我们选f测=10MHz：对于NPN管，我们选f\(_{测}\)＝100MHz。测试中，也不是直接测出β，而是用测出输出电压来间接地表示β就可以了。
具体的电路见图2。它是由振荡电路和测量电路两部分组成的。晶体管BG\(_{1}\)与谐振回路L1、C\(_{2}\)组成谐振于100MHz频率的振荡电路，用于测试NPN管用；BG1与谐振回路L\(_{2}\)、C5又组成谐振于10MHz频率的振荡电路，作为测试PNP管时用的已知频率。这两种状态由开关K\(_{1}\)选择控制。图中C3、C\(_{4}\)分别为两种工作状态的反馈电容。由于高频振荡电压从BG1的发射极输出，所以电路的输出阻抗较低，可减轻后面测量电路对振荡电路的影响。
测量电路由待测管BG\(_{2}\)等组成，振荡级输出的高频电压或经过电位器W1或经过电位器W\(_{2}\)加至BG2 管的基极，经BG\(_{2}\)放大后，再送到由C6、D\(_{1}\)、D2等组成的倍压整流电路，变成直流后由微安表显示读数。只要校准得当，这个读数就代表了待测管的f\(_{T}\)。
元件选择与安装
高频振荡管BG\(_{1}\)用fT≥400MHz、β≥30的管子。D\(_{1}\)、D2用2AP30，若无这种二极管，也可用2AK11或2AP9。波段开关K\(_{1}\)、电源开关K2、待测管座和微安表头均与“晶体管直流参数测试仪”一文中所用的元件相同。线圈L\(_{1}\)用线径为0.51mm的漆包线在φ4mm的钻头上绕后脱胎而成；L2线圈是用线径为0.16mm的漆包线绕在10×10（mm）电视机中频变压器骨架上（用的中频变压器为磁帽型的），绕制圈数已标在图2上。
测试仪共用了两块印制板，见图3（a）、3（b）（1∶1）。3（a）为振荡电路板，3（b）为测试电路板。焊接时为了少占空间，应适当剪短元器件引线。两块印制板上的元器件焊接好以后，将图3（b）焊接元件那面朝上放置，将图3（a）放元件的那一面朝下放置，两块印刷板之间用M3螺钉加以固定。K\(_{1}\)与振荡级的连线应越短越好。测试仪的外壳及面板照片的制作方法与“晶体管直流参数测试仪”一文相同。图4给出了本仪器的结构图。图5给出了整个仪器的面板及外观图。
调试与使用
调试工作分为两步进行，1．振荡级直流工作点的调整和频率校准；2．校准f\(_{T}\)刻度。
1．调W\(_{0}\)，使BG1的发射极对地电压U\(_{e}\)为2.6～3.9伏。此时如将振荡线圈短路，Ue电压应有变化，说明电路起振。校准10MHz点频率时，K\(_{1}\)置于“PNP”位置，调整L2线圈的磁帽，将短波收音机调谐在10MHz频率上，从收音机中应能收到10MHz振荡信号，调L\(_{2}\)磁帽，将此频率校准为止。同理调整100MHz频率时，用一台调频收音机，将它调到100MHz处，然后接通仪器电路，K1置于“NPN”位置，这时调频接收机中只有“沙沙”噪声，调线圈L\(_{1}\)，即将L1拉长些，当接收机中的噪声突然消失了，说明100MHz频率点调准了。若L\(_{1}\)拉太长了，调过了，应用摄子再将L1压缩缩短些。经过调试，总能找到噪声消失位置，然后用蜡将L\(_{1}\)封固。
2．由于待测管的β是由输出电压U\(_{出}\)间接表示的，它们之间的换算关系比较复杂，所以我们这里在用前面介绍的线性关系时，还通过实验的方法来校准fT。
校准时，先取两只已知f\(_{T}\)值的PNP管和NPN管（它们的fT值一定要准确），例如用一只f\(_{T}\)=600MHz的NPN管，将它插入待测管座，先调W3使表头指针偏转最大，然后调W\(_{2}\)，使表针正好指示到600MHz的位置（原刻度盘上为5等分刻度，满度代表1000MHz），最好多校两次，提高精确度。对于PNP管型，核准方法与NPN管相同，只是满刻度为100MHz。最后将万用表的μA档串入待测管Ib支路，并给出不同的I\(_{b}\)值，在面板底图上画出待测管的Ib的电流刻度，留作观察AGC性能时使用。
仪器的使用很简单，根据待测管的极性将面板上的NPN、PNP选择开关置于适当位置，插上待测管，接通电源，调W\(_{3}\)的旋钮，使指针偏转最大，这时读数的就是fT。对于具有AGC特性的超高频NPN管，在旋动W\(_{3}\)旋钮时，如果表针随着Ib的增加而平稳的变化，说明待测管无AGC特性；如果表针随着I\(_{b}\)的增加而突然变大，说明待测管有AGC特性，而且从Ib的变化范围可以大致看出待测管AGC的特性的变化情况。(张健民)