很多生产部门需要测量薄膜的厚度。通常使用的测厚装置，有的比较复杂，也有的精度很差，而且不少属于破坏性测量。我们介绍一种薄膜厚度的测量方法，此法比较简单，调试使用也很方便，而且不是破坏性测量，对各种非铁磁性薄膜，如纸张、塑料、搪瓷、喷漆层、铝箔、铜箔以及锌、铅、锡的镀层厚度均能得到满意的测量结果。
图1是测量原理示意图，1是一个高导磁率的软铁棒，2是励磁线圈，3是弹簧，4是被测薄膜（如喷漆层），5是铁磁性材料的基底。当一个直流电流通过桥路流过线圈2时，铁棒就被磁化，构成一个电磁铁。这时，如果把铁棒的一端接触到附在铁磁性基底5上的非磁性薄膜4时，铁棒就会被吸引在薄膜上。调节桥臂电阻R\(_{4}\)，逐渐减小线圈2中的电流（即电流表A2指示的电流），铁棒的吸引力就会逐渐减小。由于铁棒还受到弹簧3的拉力，因此当线圈2中的电流减小到某一数值时，铁棒便会被弹簧拉起而离开被测面。对于一定的薄膜厚度，铁棒被拉起时的电流值是一定的，因此，根据电流与膜厚的这种确定的关系就可以由A\(_{2}\)指示的电流来确定被测薄膜的厚度了。显然，被测膜越厚，铁棒被铁磁性基底吸引的力量就越小，因而越容易被弹簧拉起，或者说，A2指示的电流还比较大时，铁棒就被拉起来了。反之，被测膜越薄，在同样的电流下，铁棒被吸引的力量就越大，因而也就越不容易被弹簧拉起来。此时若要把铁棒拉起来，必须进一步减小电流。这就是薄膜测厚的原理。
然而，在实际制作的时候，最好不采用电流表A\(_{2}\)，而采用电流表A1的指示来表示薄膜厚度。这是因为，理论和实验都表明，当调节桥臂电阻R\(_{4}\)时，电流表A1的指示发生的变化要比A\(_{2}\)大，因此用A1的电流指示来表示薄膜厚度测量精度会更高一些。不过，A\(_{1}\)指示的变化情况与A2正好相反，A\(_{2}\)↑时，A1↓；A\(_{2}\)↓时，A1↑。所以A\(_{1}\)的指示越小，说明所测的薄膜越厚。我们自制的测厚仪，A1的指示与膜厚的关系如图2所示，大家可以参考。
测头是仪器的关键部分，因此需要再详细说一说。测头的结构如图3所示，它是由测棒、线圈和弹簧组成的。测棒是一个小圆棒，它必须由高导磁率、低矫顽力的材料加工而成。励磁线圈可用漆包线勾绕制成，匝数要尽可能多一些（最好不小于5000匝），以增加电磁铁的吸力。骨架材料选用胶木，不用有机玻璃，以免由于线圈发热而引起形变。测棒上端连接一个弹簧，并将弹簧固定在支架上，测棒下端与骨架底面相距约2毫米左右。测棒应能在骨架内孔上下运动不受阻碍。
为了能在测量过程中判断测棒何时离开被测面，可以利用测棒本身和另一个固定接点K构成一个开关，如图4。当测棒弹起的瞬间，用这个开关去控制一个指示灯L。其控制过程如下：在图4a中，测棒被吸附在待测面上，这时作为活动接点的测棒离开了固定接点K，指示灯L的电源断开，因此L不亮；当测棒离开待测面而回到自由状态时（图4b），测棒与K点接触，指示灯电路接通，L亮。
测量线路包括一个电桥和一个直流电源（见图1）。我们制作的测厚仪中采用的各桥臂电阻的数据也标在图1上，供大家参考。直流电源要能够提供足够的电流（由测量的最大厚度决定）。下面再把组装与调试的主要之点谈一谈。首先要将测棒置于绕好的线圈中，并将弹簧固定好，使测棒下端距骨架底面约在1.5～2毫米，这时先将电源不通过电桥直接加到线圈两端，并将线圈骨架放在最大被测厚度的薄膜上，看测棒能否被薄膜的铁磁性基底吸住，如果不能，则应加大电源的输出电压（即加大线圈的电流），或减小测棒与骨架底面之间的距离（但最好不要小于1毫米）。采取这两种措施后，基本上就可以保证测棒能与被测薄膜吸上。在这之后把桥路接入电路，调节R\(_{4}\)再次看看测棒能否吸附薄膜，如吸不上，可将桥臂电阻R1的值适当减小。然后再向相反的方向调节R\(_{4}\)，观察测棒是否可以从薄膜上弹开，如不能，可增大R1值。最后达到两个方向调节R\(_{4}\)时使测棒既能吸在薄膜上，也能弹起来，就可把表头A1接入桥路，并进行刻度标定了。标定的方法是使用本装置去测量一些已知厚度的薄膜，并将这些厚度值和表头的电流值对应起来画出一条曲线（如图2那样），也可以直接将毫安表的表盘刻成厚度单位（微米）。
最后说明一点，如果测量的薄膜本身就有铁磁性基底（如测量铁板、铁管喷漆的厚度），本仪器可以直接使用；如果测量本身无铁磁性基底的物质厚度，如塑料、纸张等，则需将薄膜平整地放在一块铁板上，此铁板即铁磁性基底。基底的材料（钢或铁）和厚度（1～10毫米以内）基本上不影响测量结果。（戴锦锟）